HACA-3800高精度分光測色儀采用*的光譜測量技術及雙光束反饋光學系統,具有業界*的測量精度;可實現物體表面光譜反射率、光譜透射率及顏色坐標等數據的高精度測量,符合CIE、ISO、ASTM、DIN、JIS等國際標準和GB/T*標準的顏色要求,是材料顏色匹配的*解決方案。
? 主要特點:
l 測試重復性小于0.01△E*ab,器間一致性達0.08△E*ab;
l 熒光色測量的技術變革、無需UV矯正即可實現熒光色的準確測量;
l 極優深色域測量表現,在測量低反射率或透射率材料時,仍具有較高的精度和重復性;
l 全光譜LED光源,壽命更長、穩定性更好;
l 雙光束反饋系統,實時監控和補償光源波動;
l 內置高性能快速光譜儀,實現高精度快速測量;
l 成像輔助定位,可直接觀察測量區域細節,測量區域;
l 自動變焦功能,可根據不同的測量孔徑,實現自動變焦;
l 兼容反射和透射測量,提供SCI 和 SCE 兩種測試模式可選;
l 大觸摸屏顯示:輕松實現定標和測量,無需外接計算機;
l 多功能管理分析軟件:包含顏色、反射率、透射率、遮蓋率測量以及統計分析功能。
? 主要技術指標:
l 測量功能:顏色、光譜反射率曲線、光譜透射率曲線;
l 色空間/顏色參數:L*a*b、L*C*h、Yxy、Luv、Hunter Lab 、XYZ、RGB、△E*ab、△E*94、△E*00、CMC(2:1)、CMC(1:1)、MI、WI(ASTM313/CIE)、YI(ASTM 313/ASTM D1925)等參數;
l 照明/接收條件:透射:d/0(漫射照明/0°接收) 符合ASTM要求,
l 反射:d/8(漫射照明/8°接收) 符合ISO、DIN 、CIE、ASTM要求;
l SCI/SCE同步測量:SCI(含鏡面反射)/SCE(消除鏡面反射)可選;
l UV濾除功能:不包括紫外光, 包括紫外光:420納米、460納米和紫外線光校準模式;
l 波長范圍:360-780nm
l 可選配多種比色皿,用于液體的測量。
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HACA-3800高精度分光測色儀采用*的光譜測量技術及雙光束反饋光學系統,具有業界*的測量精度;可實現物體表面光譜反射率、光譜透射率及顏色坐標等數據的高精度測量,符合CIE、ISO、ASTM、DIN、JIS等國際標準和GB/T*標準的顏色要求,是材料顏色匹配的*解決方案。
? 主要特點:
l 測試重復性小于0.01△E*ab,器間一致性達0.08△E*ab;
l 熒光色測量的技術變革、無需UV矯正即可實現熒光色的準確測量;
l 極優深色域測量表現,在測量低反射率或透射率材料時,仍具有較高的精度和重復性;
l 全光譜LED光源,壽命更長、穩定性更好;
l 雙光束反饋系統,實時監控和補償光源波動;
l 內置高性能快速光譜儀,實現高精度快速測量;
l 成像輔助定位,可直接觀察測量區域細節,測量區域;
l 自動變焦功能,可根據不同的測量孔徑,實現自動變焦;
l 兼容反射和透射測量,提供SCI 和 SCE 兩種測試模式可選;
l 大觸摸屏顯示:輕松實現定標和測量,無需外接計算機;
l 多功能管理分析軟件:包含顏色、反射率、透射率、遮蓋率測量以及統計分析功能。
? 主要技術指標:
l 測量功能:顏色、光譜反射率曲線、光譜透射率曲線;
l 色空間/顏色參數:L*a*b、L*C*h、Yxy、Luv、Hunter Lab 、XYZ、RGB、△E*ab、△E*94、△E*00、CMC(2:1)、CMC(1:1)、MI、WI(ASTM313/CIE)、YI(ASTM 313/ASTM D1925)等參數;
l 照明/接收條件:透射:d/0(漫射照明/0°接收) 符合ASTM要求,
l 反射:d/8(漫射照明/8°接收) 符合ISO、DIN 、CIE、ASTM要求;
l SCI/SCE同步測量:SCI(含鏡面反射)/SCE(消除鏡面反射)可選;
l UV濾除功能:不包括紫外光, 包括紫外光:420納米、460納米和紫外線光校準模式;
l 波長范圍:360-780nm
l 可選配多種比色皿,用于液體的測量。